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中圖國(guó)產(chǎn)光學(xué)輪廓儀SuperViewW系列基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀(guān)幾何輪廓、曲率等。
SJ5800中圖表面粗糙度測(cè)量?jī)x具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，分辨率高達(dá)到0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。操作靈活、智能、簡(jiǎn)單，輪廓和粗糙度一體測(cè)量，無(wú)需切換模塊。
SuperViewW系列光學(xué)3D形貌測(cè)量輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。
SJ5800中圖粗糙度輪廓度儀器儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線(xiàn)度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，一次測(cè)量掃描后，在同一個(gè)界面顯示粗糙度評(píng)價(jià)結(jié)果與輪廓分析結(jié)果。
SJ5800大量程一體型粗糙度輪廓儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，專(zhuān)業(yè)測(cè)試軸承內(nèi)外側(cè)。分辨率高達(dá)到0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。與配套軟件測(cè)量軸承滾道，輪廓和粗糙度一體測(cè)量，無(wú)需切換模塊。一次測(cè)量掃描后，在同一個(gè)界面顯示粗糙度評(píng)價(jià)結(jié)果與輪廓分析結(jié)果。
SuperViewW高精度3D表面光學(xué)輪廓儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。它具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。
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