在微電子、微機械、微光學(xué)等領(lǐng)域，白光干涉儀可以提供更高精度的檢測需求。但白光干涉儀由于鏡頭視野較小，要想測量物體整個區(qū)域的表面情況，只能用自動拼接測量功能，但耗時較多，這時候可以用自動多區(qū)域測量功能，在樣品表面抽取多個測量區(qū)域進行測量，從而對樣品進行評估分析。

中圖儀器SuperViewW1表面光學(xué)輪廓儀自動拼接功能的使用，即不管是在光滑還是粗糙、平面亦或是異形結(jié)構(gòu)，當(dāng)必須測量超出適配鏡頭下的單視場區(qū)域時，都可以采用自動拼接，可根據(jù)不同表面特點進行重建算法的切換，無論何種形貌，都可生成3D全景。

測量方法很簡單：

1.點擊XY復(fù)位，使得SuperViewW系列表面光學(xué)輪廓儀的鏡頭復(fù)位到載物臺中心

2.將被測物放置在載物臺夾具上，被測物中心大致和載物臺中心重合；3.確認電機連接狀態(tài)和環(huán)境噪聲狀態(tài)滿足測量條件；4.使用操縱桿搖桿旋鈕調(diào)節(jié)鏡頭高度，找到干涉條紋；5.設(shè)置好掃描方式和掃描范圍；6.點擊選項圖標(biāo)，確認自動找條紋上下限無誤；7.點擊多區(qū)域測量圖標(biāo)，可選擇方形和（橢）圓形兩種測量區(qū)域形狀；9.根據(jù)被測物形狀和尺寸，"形狀"欄選擇“橢圓平面"，X和Y方向按需設(shè)置；10.點擊彈出框右下角的“開始"圖標(biāo)，儀器即自動完成多個區(qū)域的對焦、找條紋、掃面等操作。

深圳市中圖儀器股份有限公司成立十多年來，一直堅持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ)，歷經(jīng)了十多年的技術(shù)積累和發(fā)展實踐，在微納米運動設(shè)計制造、微納米顯微測量三維重建、顯微測量3D形貌分析、大尺寸三維空間測量、精密傳感測頭、光柵導(dǎo)軌測控等眾多技術(shù)領(lǐng)域形成了設(shè)計、制造優(yōu)勢，具備了從納米到百米為用戶提供精密測量解決方案的能力。